Magnetooptische Systeme
CMOS-MagView
Schnelle Visualisierung von Streufeldern magnetischer Materialien
- Auflösungen von 6 bis 60 µm (systemabhängig)
- Gerätespezifische Sensorflächen: 11 x 7 mm², 18 x 13 mm² und 55 x 40 mm²
- Geometrische und magnetische Kalibrierung (Magnetfeldbild)
Magnetooptischer Scanner
Höchstauflösende Visualisierung von Streufeldern magnetischer Materialien
- Scanfläche bis 300 x 300 mm², mikroskopische Auflösungen bis 1 µm
- Optische und magnetooptische Charakterisierung der Proben
Elektroblechscanner
Großflächige Prüfung der Domänenstruktur von kornorientierten Elektroblechen
- Scanfläche: 1200 x 210 mm², Auflösung: 45 µm
- Domänenobservation spontan und statisch unter definiertem Flux
Domain Tester
Dynamische Domänenobservation von kornorientierten Elektroblechen
- Sensorfläche: 18 x 13 mm², Auflösung: 30 µm
- Wechselfeldfrequenz (AC): bis 400 Hz (jochgestützt)
- Bildaufnahmefrequenz bis 8 kHz (160 Bilder bei AC-Feld von 50 Hz)
Magnetooptische Messungen
Auf Kundenwunsch können magnetooptische Messungen an magnetischen Proben durchgeführt werden.
Magnetooptische Sensoren
Schichten
Für sensorische Anwendungen und optische Bauelemente entwickeln wir kundenindividuell einkristalline Granatschichten. Diese basieren auf Bismut-substituiertem Seltenerd-Eisengranat. Die Granatschichten werden mittels Flüssigphasenepitaxie auf 1 Zoll (FuE-Level) und 3 Zoll (Fertigungslevel) großen Gadolinium-Gallium-Granat-Substraten abgeschieden. Aufgrund extrem glatter Oberflächen und geringer Kristalldefektdichte können hochqualitative LPE-Schichten für optische Anwendungen gefertigt werden.
Eigenschaften
Die von uns bereits entwickelten magnetooptischen Sensortypen (A bis D) zeigen Unterschiede in der magnetischen Anisotropie. Die Sensortypen A und D (Bias) haben eine out-of-plane Anisotropie. Im Gegensatz dazu weisen die Typen B und C vorwiegend eine in-plane Anisotropie auf.
Sensoraufbau
In Abhängigkeit des Einsatzgebiets werden auf den magnetooptischen Schichten Spiegel mit angepassten Eigenschaften aufgebracht und optional mit einer Kratzschutzschicht versehen. Das Sensordesign ist entscheidend, um einen hohen magnetooptischen Kontrast und eine bestmögliche räumliche Auflösung zu erreichen. Die Sensoren arbeiten während der Visualisierung im direkten Kontakt mit der Probenoberfläche.
Spezialentwicklungen
Aufgrund der kompletten In-House-Fertigung von magnetooptischen Schichten können wir den Kundenwünschen entsprechend spezielle Granatschichten entwickeln. Bezugnehmend auf Ihre Anfrage stellen wir weitere Informationen zur Verfügung und unterbreiten Ihnen gern ein FuE-Angebot hinsichtlich einer Spezialentwicklung.
CMOS-MagView
Qualitätskontrolle von Steufeldern
Das kamerabasierte System CMOS-MagView ist ein Prüfgerät zum Visualisieren und Vermessen magnetischer Strukturen. Basierend auf der magnetooptischen Sensortechnik erlaubt das bildgebende Verfahren eine schnelle und präzise Streufeldkontrolle von magnetischen Materialien im Nahfeld.
Mit der Anwendungssoftware lässt sich bequem anhand magnetooptischer Bilder eine Streufeldanalyse durchführen. CMOS-MagView ermöglicht über eine Sensorfläche von 18 x 13 mm² (Typ S) und 55 x 40 mm² (Typ XL) lokale Analysen von Polarität, Homogenität und lokaler Streufeldverteilung.
Anwendung:
- Magnetische Streufelder von magnetischen Encodern und Dipol‑/Multipolpermanentmagneten
- Domänenobservation von Elektroblechen (statisch, dynamisch)
- Nachweis magnetischer Tinten
- Restmagnetismus
- Magnetische Strukturen und funktionelle Feldprofile
Streufeldvisualisierung von magnetischen Encodern
Der CMOS-MagView XL dient zur schnellen Prüfung des Streufeldes von permanentmagnetischen Werkstoffen und Komponenten. Durch digitale Kameratechnik, Bildaufnahmesoftware und feldkalibriertem magnetooptischen Bild wird ein Magnetfeldbild erzeugt. Damit ist die geometrische und magnetische Messung der funktionellen Winkeleigenschaften von magnetischen Rotationsencodern möglich.
Anhand der Bilddaten können folgende Encodereigenschaften ermittelt werden:
- Polbreiten
- Polteilungswinkel (Nulldurchgänge)
- Polteilungsfehlerwinkel
- Amplitudenwinkel
Für die Erstellung des Feldbildes wird der Prüfling einfach auf dem MO-Sensor des CMOS-MagViews positioniert. Die Streufeldverteilung wird in einem Bild der Größe 55 x 40 mm² aufgenommen. Die Bilddaten sind archivierbar und lassen sich bequem über den CSV-Export weiterverarbeiten.
